“اخبار”

 پژوهشکده ذرات و شتابگر - 1391/8/20

اندازه‌گیری جرم و سطح مقطع تولید کوارک تاپ در آزمایش سی‌ام‌اس

رضا گلدوزیان

 
 در این سمینار اندازه‌گیری‌های اخیر جرم و سطح مقطع تولید کواک تاپ در آزمایش سی‌ام‌اس را در کانالهای مختلف و انرژی مرکز جرم ۷ و ۸ تی‌ای‌وی مرور خواهیم‌کرد. اندازه‌گیری سطح مقطع پراکندگی کوارک تاپ به تعیین دقیقتر ضریب جفتشدگی قوی و عناصر ماتریس سی‌کی‌ام منجر میشود که در مورد روش اندازه‌گیری آنها نیز بحث خواهیم‌کرد.
زمان: شنبه 20 آبان ماه 1391 ساعت 3 بعدازظهر در باغ لارک
 
 
back to top
scroll left or right